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Legislación › Orden ICT/155/2020, de 7 de febrero, por la que se regula el control metrológico del Estado de determinados instrumentos de medida.

APÉNDICE I

APÉNDICE I

Requisitos esenciales específicos para sistemas de medida

«A efectos del contenido técnico de este apéndice, la terminología utilizada es la del Vocabulario Internacional de Metrología Legal.

Los errores máximos permitidos se indican en cada uno de los ensayos que figuran en el apéndice II.

Los errores relativos, expresados en %, se calculan según las siguientes fórmulas.

er = [(Vind - Vp) / Vp] × 100

siendo:

Vind: Volumen indicado por el sistema de medida.

Vp: Volumen medido por el patrón.

er: Error relativo porcentual en el volumen indicado por el sistema de medida.

mr = [(mind - mp) / mp] × 100

siendo:

mind: masa indicada por el sistema de medida.

mp: masa medido por el patrón.

mr: Error relativo porcentual en la masa indicado por el sistema de medida.

El sistema de medida de referencia (patrón) utilizado para la determinación de los errores en las indicaciones de volumen o masa debe tener una incertidumbre expandida inferior a 1/3 de estos errores máximos permitidos. En el caso de que no sea posible alcanzar la incertidumbre expandida anteriormente indicada, se aplicará el error máximo reducido según lo indicado en la fórmula siguiente:

emp reducido = (4/3 x emp - U)

Siendo U la incertidumbre expandida para un factor de cobertura de k=2.

Se modifica por el art. único.11 de la Orden ITU/1475/2024, de 17 de diciembre. BOE-A-2024-27147

Redactado conforme a la corrección de errores publicada en BOE núm. 126 de 6 de mayo de 2020. BOE-A-2020-4833

Redacciones de este artículo

En vigor desdeLa introdujo
16 de enero de 2025 En vigor BOE-A-2024-27147 Leer Qué cambió
24 de octubre de 2020 Texto original Leer

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