Legislación › Orden ICT/155/2020, de 7 de febrero, por la que se regula el control metrológico del Estado de determinados instrumentos de medida.
APÉNDICE I
Comparación entre la redacción en vigor desde el 24 de octubre de 2020 y la del 16 de enero de 2025.
Tachado: lo que se quitó (8 palabras). Subrayado: lo que se añadió (94 palabras).
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APÉNDICE I
Requisitos esenciales específicos para sistemas de medida
A «A efectos del contenido técnico de este apéndice, la terminología utilizada es la del Vocabulario Internacional de Metrología Legal.
Los errores máximos permitidos se indican en cada uno de los ensayos que figuran en el apéndice II.
Los errores relativos, expresados en %, se calculan según la siguiente fórmula. las siguientes fórmulas.
er = [(Vind – - Vp) / Vp] × 100
siendo:
Vind Vind: Volumen indicado por el sistema de medida.
Vp Vp: Volumen medido por el patrón.
er er: Error relativo porcentual en el volumen indicado por el sistema de medida.
mr = [(mind - mp) / mp] × 100
siendo:
mind: masa indicada por el sistema de medida.
mp: masa medido por el patrón.
mr: Error relativo porcentual en la masa indicado por el sistema de medida.
El sistema de medida de referencia (patrón) utilizado para la determinación de los errores en las indicaciones de volumen o masa debe tener una incertidumbre expandida inferior a 1/3 de estos errores máximos permitidos. En el caso de que no sea posible alcanzar la incertidumbre expandida anteriormente indicada, se aplicará el error máximo reducido según lo indicado en la fórmula siguiente:
emp reducido = (4/3 x emp - U)
Siendo U la incertidumbre expandida para un factor de cobertura de k=2.
Redacciones de este artículo
| En vigor desde | La introdujo | ||
|---|---|---|---|
| 16 de enero de 2025 En vigor | BOE-A-2024-27147 | Leer | Qué cambió |
| 24 de octubre de 2020 | Texto original | Leer |


